國(guó)產(chǎn)光譜分析儀采用CMOS檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線,配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,可以滿(mǎn)足包括:Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、
Mg基體、Co基體等基體要求,是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。
全譜分析技術(shù),方便配置更多基體和元素,方便在用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
儀器體積小巧,對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
工作時(shí)間長(zhǎng),具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快,單次測(cè)試過(guò)程少于40秒
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便,對(duì)人員專(zhuān)業(yè)要求低
原廠安裝分析程序,測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,適用牌號(hào)齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑,測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保